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        徠卡3D表面測(cè)量系統(tǒng)_Leica DCM8工業(yè)白光共聚焦顯微鏡_樣本、參數(shù)、價(jià)格、案例等

        發(fā)布時(shí)間:2022/2/15      點(diǎn)擊次數(shù):645
         在工業(yè)和研究中高精度表面分析發(fā)揮著至關(guān)重要的作用它可以幫助確保材料和組件實(shí)現(xiàn)令人滿意的性能,但同時(shí)也面臨著諸多挑戰(zhàn):表面結(jié)構(gòu)錯(cuò)綜復(fù)雜,高傾斜度區(qū)域要求橫向分辨率達(dá)到數(shù)微米,而關(guān)鍵性微觀峰谷要求垂直分析達(dá)到亞納米級(jí)。雖然共聚焦顯微技術(shù)可以提供高橫向分辨率但要實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)垂直分辨率則需要干涉測(cè)量技術(shù)。
        因此,我們將這兩種測(cè)量技術(shù)相結(jié)合推出了多功能高速3D表面測(cè)量系統(tǒng)LeicaDCM8--為您的所有測(cè)量觀察任務(wù)提供一站式解決方案。

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