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        正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡應(yīng)用上的區(qū)別

        更新時(shí)間:2018-06-14      點(diǎn)擊次數(shù):1579
                 正置式和倒置式的區(qū)別簡單的說就是,正置的樣品放在下面,倒置的樣品放在上面。正置的物鏡向下,倒置的物鏡向上。
                倒置金相顯微鏡,由于試樣觀察面向下與工作臺表面重合,觀察物鏡位于工作臺的下面,向上觀察,這種觀察形式不受試樣高度的限制,在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整,因此工廠實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)院校教學(xué)普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大,重心較低,安全平穩(wěn)可靠,目鏡與支承面呈45℃傾斜,觀察舒適。

                正置金相顯微鏡 具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能,除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,因?yàn)榉先说娜粘A?xí)慣,因此更廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀察時(shí)成像為正像,這對使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,大于3微米小于20微米觀察目標(biāo),比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有很好的成像效果。

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